Контурограф-профилограф XCR 20

Контурограф-профилограф XCR 20 — это совершенный прибор на базе ПК, соответствующий высшему уровню техники измерения поверхности. Объединяя функциональные возможности двух систем (профилографа XR 20 и контурографа XC 20) прибор XCR 20 является мощнейшей комбинированной системой измерения контура и шероховатости с использованием двух различных приводов.

Привод GD 25 обеспечивает возможность измерения шероховатости. Определяет более 75 параметров шероховатости, волнистости, Р-профиля и Motif-параметров в соответствии с международными нормами, как на производстве, так и на пунктах ОТК и измерительных лабораториях.

Благодаря системе безопорного щупа могут быть измерены не только параметры шероховатости поверхности, но и волнистости.

Привод PCV 200 обеспечивает возможность измерения контура.

ПараметрПривод GD 25Привод GD 120
Длина трассирования, мм25,4120
Скорость измерения, мм/с0,1 - 0,50,1 - 0,5
Остаточное значение по Rz, нмменее 30менее 30
Отклонение прямолинейности, мкм0,2 мкм на 20 мм0,15 мкм на 20 мм
0,3 мкм на 120 мм
Разрешение± 25 мкм = 0,5 нм;
± 250 мкм = 5 нм
± 25 мкм = 0,5 нм;
± 250 мкм = 5 нм
Диапазон регулировки по высоте, мм410

Специальная измерительная колона ST750 D со встроенной шкалой

Специальное решение для измерение коленчатых валов