Профилограф XR 20

Профилограф XR 20 — это совершенный прибор на базе ПК, соответствующий высшему уровню техники измерения поверхности. Определяет более 75 параметров шероховатости, волнистости, Р-профиля и Motif-параметров в соответствии с международными нормами, как на производстве, так и на пунктах ОТК и измерительных лабораториях.

Благодаря системе безопорного щупа могут быть измерены не только параметры шероховатости поверхности, но и волнистости.

Системы могут поставляться в различных вариантах исполнения:

  • привод измерения шероховатости GD 25 или GD 120
  • ручная, автоматизированная или ЧПУ (CNC) колона
  • наличие различных фиксирующих аксессуаров и автоматизированных линейных и поворотных осей
ПараметрПривод GD 25Привод GD 120
Длина трассирования, мм25,4120
Скорость измерения, мм/с0,1 - 0,50,1 - 0,5
Остаточное значение по Rz, нмменее 30менее 30
Отклонение прямолинейности, мкм0,2 мкм на 20 мм0,15 мкм на 20 мм
0,3 мкм на 120 мм
Разрешение± 25 мкм = 0,5 нм;
± 250 мкм = 5 нм
± 25 мкм = 0,5 нм;
± 250 мкм = 5 нм
Диапазон регулировки по высоте, мм410

Специальные решения MarSurf

Измерение шероховатости и волнистости на длине трассы до 120 мм системой безопорного щупа на магнитном креплении

Измерение топографии поверхности

Широчайшая область применения и подбор аксессуаров под любую задачу

Измерение параметров поверхности на каленвалах и на блоке цилиндров со специальными адаптерами