Сферометры SpheroCompact и SpheroTronic

Одним из ключевых параметров при изготовлении сферических деталей различного назначения, таких как линзы, стекла или пластины, является радиус кривизны. Наиболее простым, а, следовательно, быстрым и надежным способом его контроля является использование контактного сферометра, вычисляющего радиус кривизны как функцию величины перемещения линейного датчика.

Благодаря высокой точности измерений сферометры Trioptics могут использоваться  для калибровки плоскопараллельных пластин, измерений деталей с полированными и шлифованными поверхностями, контроля радиуса металлических и стеклянных шаров.

Ключевыми особенностями сферометров Trioptics являются высокое разрешение отсчета линейного датчика, использование колец из нержавеющей стали с шариками из карбида вольфрама для размещения измеряемых деталей, а также применение калибровочных пластин с погрешностью изготовления λ/10 и точнее. Все это обеспечивает измерение радиуса кривизны с погрешностью до 0,005 %.

К преимуществам сферометров Trioptics можно отнести регистрацию измеренных значений при помощи ПК, возможность создания и вывода на печать измерительных протоколов, а также автоматическое определение выпуклой и вогнутой поверхности. Все это позволяет освоить работу со сферометром без длительного обучения и устранить влияние на результат таких субъективных факторов, как острота зрения оператора, степень усталости и т.д.

Технические характеристики сферометров серии SpheroCompact и SpheroTronic

 

ПараметрSpheroCompactSuper-Spherotronic HRUltra-Spherotronic
Тип прибораручнойавтоматическийавтоматический
Диапазон измерения выпуклого радиуса, ммот +2,5 до ∞от +3 до ∞от +3 до ∞
Диапазон измерения выпуклого радиуса, мм
Измерение вогнутого радиуса, мм
от -4 до ∞от -6 до ∞от -6 до ∞
Ход линейного датчика, мм±15±30±30
Диаметр измеряемых линз, ммот 5 до 500от 6 до 500от 6 до 500
Разрешение отсчета линейного энкодера, мкм0,10,10,02
Погрешность отсчета линейного энкодера, мкм±0,5±0,1±0,1
Погрешность измерения,%±0,05± 0,01± 0,005

Контроль пробных стекол